6910230 - MARSURF PS10 SET W/2UM PROBE 6910232 - MARSURF PS10 SET W/ 5UM PROBE 6910235 - MARSURF PS10 C2, TRANSVERSE DRIVE, 2UM PROBE
测量原则 探针法 探针法 Stylus method
输入 感应式滑动测头 感应式滑动测头 inductive skidded probe
测量单元 公制/英寸 公制/英寸 metric/inches
测量范围 mm 350 μm、180 μm、90 μm（自动切换） 350 μm、180 μm、90 μm（自动切换） 0.350
轮廓分辨率 32 nm、16 nm、8 nm（自动切换） 32 nm、16 nm、8 nm（自动切换） 8 nm
过滤器符合 ISO/JIS 标准 相位校正轮廓过滤器，符合 DIN EN ISO 11562 标准；专用过滤器，符合 DIN EN ISO 13565-1 标准；ls 过滤器，符合 DIN EN ISO 3274 标准（可脱离） 相位校正轮廓过滤器，符合 DIN EN ISO 11562 标准；专用过滤器，符合 DIN EN ISO 13565-1 标准；ls 过滤器，符合 DIN EN ISO 3274 标准（可脱离） Gaussian filter as per ISO 16610-21 (formerly ISO 11562), special filter as per DIN EN ISO 13565-1, Lambda s filter as per DIN EN ISO 3274 (can be switched off)
短行程符合 ISO/JIS 可选 可选 selectable
扫描长度符合 ISO 12085 (MOTIF) 1 mm, 2 mm, 4 mm, 8 mm, 12 mm, 16 mm 1 mm, 2 mm, 4 mm, 8 mm, 12 mm, 16 mm 1 mm, 2 mm, 4 mm
根据 ISO/JIS 评估长度 1.25 mm、4.0 mm、12.5 mm 1.25 mm、4.0 mm、12.5 mm 1.25 mm, 4.0 mm
采样长度数量符合 ISO/JIS 可选：1 至 5 可选：1 至 5 selectable: 1 to 16
探针 2 μm 5 μm 2 μm
测量力 (N) 约..0.7 mN 大约 0.7 mN 0.00075
校准功能 动态 动态 dynamic; Ra, Rz, Rsm
储量 最多 15 个轮廓，最多 20000 个结果 最多 15 个轮廓，最多 20000 个结果 min. 3900 profiles, min. 500,000 results, min. 1500 PDF records, expandable with microSD card up to 32 GB
其他 锁定/密码保护，日期/时间 锁定/密码保护，日期/时间 Lock/password protected, date/time
防护系统 IP 40 IP 40 IP 40
可充电电池 锂离子电池 锂离子电池 Lithium-ion battery, min. 1200 measurements
宽范围电源 100 至 264 V 100 至 264 V 100 to 264 V
尺寸 (mm) 160 mm x 77 mm x 50 mm 160 mm x 77 mm x 50 mm 160 mm x 77 mm x 50 m |
 |
|
您当前位置是：产品大全 >> 机械及行业设备 >>
其他未分类
免责声明：以上所展示的信息由会员自行提供，内容的真实性、准确性和合法性由发布会员负责，www.qy6.com对此不承担任何责任。如有侵犯您的权益，请来信通知删除。
联系信息