ST-SP 2000_5
分立元器件测试仪
可测试 19大类27分类 大中小功率的 分立器件及模块的 静态直流参数
（测试范围包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）
主极输出 2000V / 50~1250A，分辨率*高至1mV / 10pA
支持曲线扫描图示功能
应用领域
军工院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等所有的半导体器件应用产业链 ……
主要用途
⇒ 测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试）
⇒ 失效分析（对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案 ）
⇒ 选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）
⇒ 来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）
⇒ 产线自动化测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试）
♦ 产品简述
  产品扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。
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