CME-EL电致发光外量子效率测量系统

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CME-EL电致发光外量子效率测量系统

CME-EL电致发光外量子效率测量系统//CME-EL电致发光外量子效率测量系统

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公　司：中科微能（北京）科技有限公司

发布时间：2019年10月15日

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详细说明

CME-EL电致发光外量子效率测量系统（EQE)是一种紧凑，操作便捷，可在手套箱内完成搭建。发光材料的特征体现在它们的荧光量子产率。对于诸如有机和无机LED的发光器件，相应的物理特征表现值是外量子效率，通常通过电致发光（ELelectroluminescence）方法测量。
主要特点:
l可以测量L(cd/m2)、LmEff(cd/A)、EQE和CIE1931；
l光谱仪系统采用制冷型CCD信噪比高、杂散光低；
l体积小巧：便于灵活使用及运输；
l坚固、紧凑的设计，可以***限度减少实验室空间；
l专业软件，操作简单；软件显示：J-V曲线、L-J曲线、LmEff-J曲线、EQE-J曲线、CIE1931 XYGraph曲线。

技术参数
光谱仪
型号
CME-QE2000（可选）
光谱范围（nm）
300-1100nm
光谱仪分光元件
全息成像光柵
感光元件
电子冷卻型CCD影像感测器
信噪比
1000:01:00
分辨率
2.5nm(FWHM)
积分球
尺寸
100mm
涂层材质
Sperctralon
源表
型号
Keithley2400
光纤
芯径
800u

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