植物冠层包含了叶、茎、花、果实等器官，不仅塑造了植株丰富的外观形态，而且也间接反映了植株的生长状况。要研究植物冠层就要考虑到冠层的叶面积、叶倾角、光能有效辐射、孔隙度等指标参数，然而太阳位置和太阳光照强度在一天之中不断变化，另外冠层结构的复杂也给植物冠层的研究分析增加了难度。因此，研发一款分析植物冠层的仪器——冠层图像分析仪是十分有必要的。
我们可以通过分析研究植物冠层对作物进行合理的管理调控和估产，而冠层图像分析仪的作用就是测量叶面积指数、叶片平均倾角、不同太阳高度角下的直射辐射透过率、不同太阳高度角下的消光系数、冠层内外的光合有效辐射（PAR）等参数。该仪器采用比尔定律以及冠层孔隙率与冠层结构相关的原理，对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率，并计算出冠层结构参数，这是各类测量方法中较为精确和省力、省时、快捷便利的方法。
冠层图像分析仪通过图像传感器测量测量冠层不同高度，可得到群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图。配置的专用分析软件可对图像进行分割，并只对有效图像进行分析，使得测量的数据更加准确。在现代农业研究中，应用该仪器研究作物冠层的结构特性，已经是一项重要的课题，也是农业科学种植的重要依据。 |
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