测厚规（厚度规）

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公　司：深圳市方源仪器有限公司

发布时间：2017年12月21日

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详细说明

SM-112测厚规
品牌：TECLOCK(日本得乐)
用于纺织布料、薄膜、纸张,塑料等物品的厚度测量。
原理：在一定的面积与一定荷重下，测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。
技术参数：
指式方式：指针式
测量范围：0-10mm
最小读数：0.01mm
测量深度：26mm
体积大小：(W*D*H)87*23*105mm
重量：150g

SM-114测厚规
品牌：TECLOCK(日本得乐)
用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量，加长型测臂具有更大的测量深度。
原理：在一定的面积与一定荷重下，测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。
技术参数：
指式方式：指针式
测量范围：0-10mm
最小读数：0.01mm
测量深度：120mm
体积大小：(W*D*H)190*23*145mm
重量：250g

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