新一代的粒度仪将成熟的SediGraph分析技术与先进的检测仪器功能相结合，提供卓越的重复性、准确性和重现性。 SediGraph III粒度仪通过X射线吸收测量样品质量，利用国际标准的沉降法测量粒度，无需建模。该产品的技术已成为全球造纸、陶瓷、磨料等数个行业的金色标准。
SediGraph粒度仪使用沉降法从均相液体中分析不同大小的固体颗粒物。通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度。测定一定密度颗粒在已知密度和粘度的液体中的沉降，即可以运用Stokes方程来计算颗粒的等效球直径。在这种情况下，报告中的粒径就是与测试颗粒具有相同沉降速度的等效球的直径。
粒度仪高精度X射线管，7年保修
简化的泵系统，确保快速分析并易于维护
低噪音，提供安静的工作环境
维护提醒装置，根据已分析的样品数自动提醒维护
混合室温度电脑控制，提高重复性与重现性
多功能报告系统可提供包括颗粒沉降速度和粒度等多种数据显示选项
操作软件可连接网络，提供点击选择、网络化、打印机选择、剪切和粘贴等功能
SediGraph粒度仪完全符合ASTM B761-06(2011)、ASTM C958-92(2007)、ISO 13317-1:2001、ISO 13317-3:2001等国际标准
详见：麦克默瑞提克粒度仪http://www.micromeritics.com.cn/products_view.aspx?id=25 |
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