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BOWMAN X射线荧光膜厚仪 BOWMAN X射线荧光膜厚仪//BOWMAN X射线荧光膜厚仪

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公 司: 深圳市金东霖科技有限公司 
发布时间:2014年09月28日
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公 司:深圳市金东霖科技有限公司

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    博曼(美国)BA100膜厚测试仪,采用X射线测量原理,对产品进行高精度无损测量,
并且是集中业内*新水平的测试仪器,.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管?探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素,并且在无标准片的情况下,依然能准确读数与测量。
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