TESCAN SEM扫描电镜
TESCAN VEGA 钨灯丝扫描电镜（SEM）
扫描电子显微镜是一种众所周知的无损分析技术，它使用电子束分析样品表面，分析尺度可至纳米级。扫描电子显微镜可获得高分辨的高倍图像，广泛应用于各个科学和工业领域。
TESCAN 提供各种样品室大小和配置的高性能钨灯丝扫描电子显微镜，以满足特定的分析需求。
TESCAN VEGA 第四代钨灯丝扫描电子显微镜，采用全新的 Essence™ 电镜操控软件系统，将扫描形貌图像与元素实时分析集成于同一个扫描窗口中。这种组合大大简化了样品表面形貌的采集及所含元素的数据分析工作，使得全新的第四代 VEGA SEM 成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料等检测提供更高效的分析的解决方案。
适用领域
材料科学：钢铁及合金、聚合物及复合材料、土木工程和建筑材料、木材，纺织品及纸张
生命科学：生物医学工程、制药技术、植物和动物科学、环境和食品科学
地球科学：岩石学 & 矿物学、古生物学、矿物加工、废物回收
突出特点
* 集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平台，在 Essence™ 电镜操控软件的单一窗口中即可实现 SEM 成像和元素成分分析。
* TESCAN 采用独特的无机械光阑设计，采用实时电子束追踪（In Flight Beam Tracing™）的技术，可帮助用户快速获得电镜的良好成像及分析条件。
* 独特的大视野光路（Wide Field Optics™）设计，*低至2倍的放大倍数，无需额外的光学导航摄像头即可轻松、精确地实现 SEM 导航。
* SingleVac™ 模式作为标准配置，为观测不导电样品和电子束敏感的样品提供便利的分析利器。
* 采用 3D 电子束技术（3D Beam Technology ）可获得实时立体成像。
* 在样品台及装置的样品运动过程中，Essence™ 3D防碰撞模块可以直观的显示安装腔室内的探测器及样品台的位置信息，提供良好的安全性的 |
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