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X射线测厚仪 X射线测厚仪_深圳环宇科学仪器有限公司_X射线测厚仪

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公 司: 深圳环宇科学仪器有限公司
发布时间:2011年12月04日
有 效 期:2012年06月01日
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陈一帆 先生 (总监)
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公 司:深圳环宇科学仪器有限公司

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详细说明

    TX220型X射线测厚仪快速、准确、无损的分析多层镀层、合金镀层。该产品经济适用,功能较强大,是工业电镀层X射线测厚仪的首选产品.

应用范围
 镀层测厚分析、电镀液离子浓度分析。适用于真空镀、离子镀、电镀的X射线测厚仪。
 钢铁、有色金属、塑胶、废旧原料回收元素分析

性能指标
 可测镀层: *多5层金属镀层、金属基体上单层无机薄膜
 镀层种类: 单金属、合金、无机薄膜
 精度:  *高可达0.01um
 厚度相对误差: 单层5%,多层10%
 厚度范围: 轻金属(如:Ti、Cr等)0.01~50um
   中金属(如:Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等)0.01~30um
   重金属(如:Pt、Au、Pb等)0.01~10um
 *小测量直径: 2mm
 分析时间: 20~100S

技术参数
 探测器: 正比计数器

 X光管:  钨(W)靶,*大电压50kV,*大电流1mA
 高压电源: 精密X射线专用电源,*高输出电压50kV
 滤光片: 6组滤光片电动切换,有效降低背景干扰
 准直器: 直径8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm电动切换
 对焦系统: 旋钮视觉对焦
 X射线防护: 三重X射线防护(样品腔、机壳、程序控制)

 输入电压: AC 220V/50HZ
 功耗:  260W
 样品腔尺寸: 660×400×135mm
 外型尺寸: 680×460×475mm
 重量:  40Kg


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